Archivio istituzionale della ricerca della Scuola Normale Superiore
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EnglishLEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2 / S., Heun; S., Kremmer; Ercolani, Daniele; H., Wurmbauer; C., Teichert. - In: JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA. - ISSN 0368-2048. - 144:(2005), p. 1163. [10.1016/j.elspec.2005.01.170]
| Titolo: | LEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2 | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2005 | |
| Rivista: | ||
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1016/j.elspec.2005.01.170 | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11384/12965 | |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| heun2005-LEEM & XPEEM of C-AFM induced surf modif of thermally grown SiO2-JESRP-144_147-1163.pdf | Accepted version (post-print) | Non pubblico | Administrator Richiedi una copia |
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http://hdl.handle.net/11384/12965
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