CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishLEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2 / S. HEUN; S. KREMMER; ERCOLANI D; H. WURMBAUER; C. TEICHERT. - In: JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA. - ISSN 0368-2048. - 144(2005), p. 1163.
| Titolo: | LEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2 |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2005 |
| Rivista: | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1016/j.elspec.2005.01.170 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11384/12965 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| heun2005-LEEM & XPEEM of C-AFM induced surf modif of thermally grown SiO2-JESRP-144_147-1163.pdf | Post-print / Author's accepted manuscript | Non pubblico | Administrator Richiedi una copia |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Copyright © 2021