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EnglishLEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2 / S. HEUN; S. KREMMER; ERCOLANI D; H. WURMBAUER; C. TEICHERT. - In: JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA. - ISSN 0368-2048. - 144(2005), p. 1163.
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http://hdl.handle.net/11384/12965| Titolo: | LEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2 |
| Autori interni: | ERCOLANI, Daniele |
| Data di pubblicazione: | 2005 |
| Rivista: | JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11384/12965 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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| heun2005-LEEM & XPEEM of C-AFM induced surf modif of thermally grown SiO2-JESRP-144_147-1163.pdf | 157.07 kB | Adobe PDF | Post-print | Administrator Richiedi una copia |
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