On the rectifiability of defect measures arising in a micromagnetics model

Ambrosio, Luigi; Kirchheim, B; Lecumberry, M.

doi:10.1007/978-1-4615-0701-7_2

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On the rectifiability of defect measures arising in a micromagnetics model / AMBROSIO L; KIRCHHEIM B; LECUMBERRY M. - 2(2002), pp. 29-60.

Titolo:	On the rectifiability of defect measures arising in a micromagnetics model
Autori:	AMBROSIO, Luigi KIRCHHEIM B LECUMBERRY M. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2002
Rivista:	INTERNATIONAL MATHEMATICAL SERIES
Handle:	http://hdl.handle.net/11384/31992
Appare nelle tipologie:	2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)

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