Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires

Tikhonov, E S; Shovkun, D V; Ercolani, D; Rossella, F; Rocci, M; Sorba, L; Roddaro, S; Khrapai, V S

doi:10.1088/0268-1242/31/10/104001

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Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires / Tikhonov, E S; Shovkun, D V; Ercolani, D; Rossella, F; Rocci, M; Sorba, L; Roddaro, S; Khrapai, V S. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - 31:10(2016), p. 104001.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11384/65126

Titolo:	Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires
Autori interni:	ERCOLANI, Daniele ROSSELLA, FRANCESCO ROCCI, MIRKO SORBA, LUCIA RODDARO, Stefano
Data di pubblicazione:	2016
Rivista:	SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
Handle:	http://hdl.handle.net/11384/65126
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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