Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires / Tikhonov, E. S; Shovkun, D. V; Ercolani, Daniele; Rossella, Francesco; Rocci, Mirko; Sorba, Lucia; Roddaro, Stefano; Khrapai, V. S.. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - 31:10(2016), p. 104001. [10.1088/0268-1242/31/10/104001]
Titolo: | Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2016 | |
Rivista: | ||
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/31/10/104001 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11384/65126 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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