Ni-rich phases identification in GaAs nanowire devices by mean of electron diffraction tomography

David, Jérémy; Rossella, Francesco; Rocci, Mirko; Gemmi, Mauro; Ercolani, Daniele; Sorba, Lucia; Beltram, Fabio; Roddaro, Stefano

doi:10.1107/S2053273316095115

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Ni-rich phases identification in GaAs nanowire devices by mean of electron diffraction tomography / David, Jérémy; Rossella, Francesco; Rocci, Mirko; Gemmi, Mauro; Ercolani, Daniele; Sorba, Lucia; Beltram, Fabio; Roddaro, Stefano. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS AND ADVANCES. - ISSN 2053-2733. - 72:a1(2016), pp. s328-s328.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11384/65128

Titolo:	Ni-rich phases identification in GaAs nanowire devices by mean of electron diffraction tomography
Autori interni:	ROSSELLA, FRANCESCO ROCCI, MIRKO ERCOLANI, Daniele SORBA, LUCIA BELTRAM, Fabio RODDARO, Stefano
Data di pubblicazione:	2016
Rivista:	ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS AND ADVANCES
Handle:	http://hdl.handle.net/11384/65128
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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