Ni-rich phases identification in GaAs nanowire devices by mean of electron diffraction tomography / David, Jérémy; Rossella, Francesco; Rocci, Mirko; Gemmi, Mauro; Ercolani, Daniele; Sorba, Lucia; Beltram, Fabio; Roddaro, Stefano. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS AND ADVANCES. - ISSN 2053-2733. - 72:a1(2016), pp. s328-s328. [10.1107/S2053273316095115]
Titolo: | Ni-rich phases identification in GaAs nanowire devices by mean of electron diffraction tomography | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2016 | |
Rivista: | ||
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1107/S2053273316095115 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11384/65128 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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