Characterization of inpaint residuals in interferometric measurements of the epoch of reionization
2023 Pagano, Mario; Liu, Xia Gi; Liu, Adrian Chi-Yan; Chi-Yan, ; Kern, N. S.; Ewall-Wice, A.; Bull, David Paul; Pascua, R.; Ravanbakhsh, S.; Abdurashidova, Z.; Adams, T.; Aguirre, J. E.; Alexander, P.; Ali, Z. S.; Baartman, R.; Balfour, Y.; Beardsley, A. P.; Bernardi, Gianni; Billings, T. S.; Bowman, J. D.; Bradley, R. F.; Burba, J.; Carey, S.; Carilli, C. L.; Cheng, C.; Deboer, D. R.; de Lera, Acedo E.; Dexter, M.; Dillon, J. S.; Eksteen, N.; Ely, J.; Fagnoni, N.; Fritz, R.; Furlanetto, S. R.; Gale-Sides, K.; Glendenning, B.; Gorthi, D.; Greig, Bradley; Grobbelaar, J.; Halday, Z.; Hazelton, B. J.; Hewitt, Jacqueline Nina; Hickish, J.; Jacobs, D. C.; Julius, A.; Kariseb, M.; Kerrigan, J.; Kittiwisit, P.; Kohn, S. A.; Kolopanis, M.; Lanman, A.; Plante, P. L.; Loots, A.; Macmahon, D. H. E.; Malan, L.; Malgas, C.; Malga, s K.; Marero, B.; Martinot, Z. E.; Mesinger, Andrei; Molewa, M.; Morales, M. F.; Mosiane, T.; Neben, A. R.; Nikolic, B.; Nuwegeld, H.; Parson, s A. R.; Patra, N.; Pieterse, S.; Razavi-Ghods, N.; Robnett, J.; Rosie, K.; Sims, P.; Smith, C.; Swarts, H.; Thyagarajan, Nithyanandan; van Wyngaarden, P.; Williams, P. K. G.; Zheng, H.